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    Titel :

    Qualifikation nach AEC Q - Halbleiter werden nicht immer ausreichend getestet


    Weitere Titelangaben:

    Qualification to AEC Q - semiconductors testing is not always sufficient.


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    ATZ elektronik ; 9 , 4 ; 40-43


    Erscheinungsdatum :

    2014


    Format / Umfang :

    4 pages


    Anmerkungen:

    ATZ elektronik;9(2014)4 ;40-43


    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch