Zum Schutz elektronischer Baugruppen vor Funktionsstörung oder Zerstörung durch elektromagnetische Felder werden Abschirmungen eingesetzt. Zur Ermittlung und funktionalen Beschreibung der Schutzwirkung und Dämpfungseigenschaften von Schirmungen aus elektrisch leitfähigem Material werden zwei Zeitbereichs-Messverfahren vorgestellt und die konkreten Ergebnisse ihrer Erprobung an einer Schirmtasche für elektronische Geräte erläutert. Es wurden das Dämpfungsverhalten bei verschiedenen Frequenzen und Amplituden elektrischer Felder und Mikrowellen bestimmt sowie die Ausfallschwelle als Grenzwert der Feldamplituden ermittelt, bis zu dem die Taschen ausreichenden Schutz der Funktionsfähigkeit eines Mikroprozessorbords bieten.
Neues Messverfahren zur Bestimmung der Schirmwirkung mittels ultrabreitbandiger elektromagnetischer Feldimpulse
tm - Technisches Messen ; 72 , 4 ; 215-222
01.01.2005
8 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
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