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    Title :

    Qualitaet auf allen Ebenen - Verbesserung der Zuverlaessigkeit von Einzelkomponenten und Halbleitern


    Additional title:

    Quality at all levels - improvement of reliability of individual components and semiconductors.


    Contributors:

    Published in:

    Elektronik automotive ; Sonderausgabe


    Publication date :

    2010


    Size :

    3 pages


    Remarks:

    Elektronik automotive;(2010)Sonderausgabe Audi A8 ;125-127


    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German





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    Bergmann,M. / Wissenschaftliche Sektion Kraftfahrzeugbau der KDT,DDR | Automotive engineering | 1982