Die Bedeutung der Qualitaetssicherung (QA) in der modernen Fertigungstechnik und die Rolle ihrer Integrierung fuer eine optimale Vervollstaendigung der rechnerintegrierten Fertigung (CIM) als wesentliches Element jeder Stufe von Konstruktion, Fertigung und Vertrieb eines Produktes. Uebersicht der gestiegenen Anforderungen an die Funktion einer Qualitaetssicherung und ihres Arbeitssystems, verbunden mit dem notwendigen maximalen Wirkungsgrad und hoechsten Nutzungswert der Qualitaetsinformationsdaten, innerhalb der CIM. Analyse des Arbeitsrahmens eines QA-Systems und seinen Bezugswerten wie Betriebsfertigungsprogramm, Produktart, Werkstoffgruppe, geforderte Form- und Massgenauigkeit, Pruefumfang, Ausruestungen der Mess- und Prueftechnik, Rechnerverfuegbarkeit und andere mehr. Uebersicht der in den USA angebotenen Softwarepakete fuer den Arbeitsbereich der Qualitaetssicherung mit ihren spezifischen Anpassungen. Beispiele der Einfuehrung einer flexiblen Qualitaetssicherung aus verschiedenen amerikanischen Werken, darunter die Firma Boeing Aerospace in Kent.


    Access

    Access via TIB

    Check availability in my library


    Export, share and cite



    Title :

    Integrated QA: closing the CIM loop


    Additional title:

    Integrierte QA als Abschluss des CIM-Systemkreises


    Contributors:

    Published in:

    Am. mach. (1963) ; 129 , 4 ; 137-775


    Publication date :

    1985


    Size :

    19 Seiten, 20 Bilder


    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    English




    Closing the Loop

    Langton, Roy | Wiley | 2006


    CRM-Closing the Loop

    Rada, D. | British Library Conference Proceedings | 1999


    SELF-CLOSING, SINGLE LOOP HOOK

    PISKUR TED / ROMANAK MATT / DESHPANDE DHANANJAY | European Patent Office | 2018

    Free access

    Closing the Loop - Retardation Control

    James, R. / Institution of Mechanical Engineers; Railway Division | British Library Conference Proceedings | 1993


    Closing the ISR-Navigation loop

    Theunissen, E / Goossens, A A H E / Tadema, J | IEEE | 2010