Elektronische Komponenten werden in EMV-Immunitätstests hohen Gleichtakt-Störungen ausgesetzt. Da Sensoren meist besonders empfindlich auf differentielle Störungen reagieren, muss der Prüfling eine geringe Gleichtakt-zu-Gegentakt Wandlung aufweisen. Besonders ausgeprägt ist dieses Problem im Bereich der Sensorik wo schon geringe Störungen aufgrund einer solchen Modenwandlung ausreichen, um die differentiellen Sensorsignale zu stören. Dieser Artikel wird die Ursachenforschung beispielhaft an einem Drucksensor in der Stromeinspeisungsprüfung vorstellen. Anschließend wird der im Entwicklungsprozess im Einsatz befindliche Workflow, bestehend aus den zuvor aufgeführten Methoden, erläutert und dessen Potential für eine First-Time-Right Entwicklung dargelegt.
Minimierung der Modenwandlung bei Sensoren mittels 3D Sensitivitätsanalyse im Entwicklungsprozess
Elektromagnetische Verträglichkeit in der Kfz-Technik - 8. GMM-Fachtagung ; 2022 ; Schwieberdingen
2022-01-01
6 pages
Conference paper
Electronic Resource
German
Springer Verlag | 2020
|Frontal Crash Entwicklungsprozess mittels FEM
British Library Conference Proceedings | 1996
|Sensitivitätsanalyse des Eigenspannungszustandes in Composite-Druckgefäßen mittels Modalanalyse
TIBKAT | 2017
|Sensitivitätsanalyse der Konsolidierungsberechnung
IuD Bahn | 2001
|Verfahren zur Minimierung von Störeinflüssen bei komplex modulierten aktiven Sensoren
European Patent Office | 2020
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