Elektronische Komponenten werden in EMV-Immunitätstests hohen Gleichtakt-Störungen ausgesetzt. Da Sensoren meist besonders empfindlich auf differentielle Störungen reagieren, muss der Prüfling eine geringe Gleichtakt-zu-Gegentakt Wandlung aufweisen. Besonders ausgeprägt ist dieses Problem im Bereich der Sensorik wo schon geringe Störungen aufgrund einer solchen Modenwandlung ausreichen, um die differentiellen Sensorsignale zu stören. Dieser Artikel wird die Ursachenforschung beispielhaft an einem Drucksensor in der Stromeinspeisungsprüfung vorstellen. Anschließend wird der im Entwicklungsprozess im Einsatz befindliche Workflow, bestehend aus den zuvor aufgeführten Methoden, erläutert und dessen Potential für eine First-Time-Right Entwicklung dargelegt.


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    Title :

    Minimierung der Modenwandlung bei Sensoren mittels 3D Sensitivitätsanalyse im Entwicklungsprozess


    Contributors:
    Benz, Jan (author) / Hansen, Jan (author) / Klaedtke, Andreas (author)

    Conference:

    Elektromagnetische Verträglichkeit in der Kfz-Technik - 8. GMM-Fachtagung ; 2022 ; Schwieberdingen



    Publication date :

    2022-01-01


    Size :

    6 pages



    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    German



    Sensitivitätsanalyse

    Singer, Andreas | Springer Verlag | 2020


    Frontal Crash Entwicklungsprozess mittels FEM

    Schilling, R. / Annandale, R. / Johnson, D. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996




    Verfahren zur Minimierung von Störeinflüssen bei komplex modulierten aktiven Sensoren

    SCHINDLER PHILIPP / BENDERMAN GENNADY | European Patent Office | 2020

    Free access