Ein neues Verfahren auf der Basis der Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie (ESPI) ermöglicht das Ermitteln von Dehnungs- und Spannungsverteilungen an beliebigen Bauteiloberflächen. Bei diesem Verfahren werden Verschiebungsmessung und Konturerfassung kombiniert. Das Abtasten der Messfläche erfolgt berührungsfrei, dabei werden richtungsunabhängig Dehnungs- und Spannungsfelder erfasst, die sofort die Hauptrichtungen, Hauptdehnungen und Hauptnormalspannungen liefern.


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    Title :

    Spannungen in kritischen Bauteilen flächenhaft messen und analysieren



    Published in:

    MM Maschinenmarkt ; 106 , 49 ; 58-60, 63


    Publication date :

    2000-01-01


    Size :

    6 pages



    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German




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