Ein neues Verfahren auf der Basis der Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie (ESPI) ermöglicht das Ermitteln von Dehnungs- und Spannungsverteilungen an beliebigen Bauteiloberflächen. Bei diesem Verfahren werden Verschiebungsmessung und Konturerfassung kombiniert. Das Abtasten der Messfläche erfolgt berührungsfrei, dabei werden richtungsunabhängig Dehnungs- und Spannungsfelder erfasst, die sofort die Hauptrichtungen, Hauptdehnungen und Hauptnormalspannungen liefern.


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    Titel :

    Spannungen in kritischen Bauteilen flächenhaft messen und analysieren



    Erschienen in:

    MM Maschinenmarkt ; 106 , 49 ; 58-60, 63


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2000


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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