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    Titel :

    Profilometry by white light autocorrelation function sampling [2004-40]



    Kongress:

    Conference, Interferometry VI: applications ; 1993 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1994


    Format / Umfang :

    10 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Direct group-delay measurement and 3D profilometry using a white-light interferometer [3478-06]

    Liang, Y. / Wu, Q. M. J. / Grover, C. P. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Radial Profilometry

    Gilbert, J. A. / Greguss, P. / Matthys, D. R. | NTRS | 1990


    A Novel Profilometry Using Frequency Comb Light Source

    Choi, S. / Yamamoto, M. / Moteki, D. et al. | IEEE | 2005



    Two-photon absorption in microcavities for optical autocorrelation and sampling

    Krug, T. / Lynch, M. / Folliot, H. et al. | IEEE | 2003