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    Titel :

    Reliability Assessment of Multichip Module Technologies via the Tri-Service/NASA RELTECH Program



    Kongress:

    Avionics panel symposium, Advanced packaging concepts for digital avionics ; 1994 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1994


    Format / Umfang :

    13 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Tunneling Accelerometer Multichip Module

    Boyadzhyan, V. V. / Choma, J., Jr. | NTRS | 1998


    Architectural impact of patterned-overlay multichip module technologies [1957-31]

    Lyke, J. C. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1993


    Improving Multichip Module (MCM) Design and Reliability Using the Intelligent MCM Analyzer

    Stoklosa, M. J. / Holzhauer, D. J. / Richards, D. W. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994


    Multichip Module Technology for Automotive Application

    Wayne Johnson, R. / Evans, J. L. / Bosley, L. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995