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    Titel :

    Pump-Probe Measurements of Carrier Capture Times in Quantum Well Structures



    Kongress:

    Annual meeting; 9th, IEEE: Lasers and Electro-Optics Society; LEOS '96 ; 1996 ; Boston; MA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    Described as proceedings. IEEE cat no: 96CH35895



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Pump-probe measurements of carrier capture times in quantum well structures

    Jian-Jang Huang, / Ding-Wei Huang, / Chung-Yen Chao, et al. | IEEE | 1996



    Femtosecond pump-probe studies on carrier dynamics in InGaN/GaN quantum wells with indium aggregated quantum dot structures

    Wang, H.-C. / Tsai, C.-Y. / Cheng, Y.-C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003



    High-Carrier-Density Pump-Probe Measurements of Low-Temperature Grown GaAs

    Sosnowski, T. S. / Norris, T. B. / Wang, H. H. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997