Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Structural defects and impurities on CZT crystals [3446-09]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, Hard X-ray and gamma-ray detector physics and applications ; 1998 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1998


    Format / Umfang :

    9 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 3446

    DataCite | 1911


    Physical properties and evaluation of spectrometer-grade CdSe single crystals [3446-03]

    Chen, H. / Hayes, M. / Ma, X. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Position-sensitive CZT detector module [3446-23]

    Matteson, J. L. / Duttweiler, F. / Huszar, G. L. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Development of prototype pixellated PIN CdZnTe detectors [3446-29]

    Narita, T. / Bloser, P. F. / Grindlay, J. E. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Electron transport uniformity characterization of CdZnTe using alpha particles [3446-21]

    Amman, M. S. / Lee, J. S. / Luke, P. N. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998