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    Titel :

    Influence of semiconductor structure inhomogeneity on electrophysical measurement results [3890-53]



    Kongress:

    International conference; 4th, Material science and material properties for infrared optoelectronics ; 1998 ; Kiev



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1999


    Format / Umfang :

    5 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 3890

    DataCite | 1920


    advect.3890.out

    Pollinger, Theresa | DataCite | 2022


    Depth inhomogeneity of ZnTe, CdZnTe, ZnSe epilayers grown on (001)GaAs of MBE [3890-28]

    Venger, E. F. / Sadof'ev, Y. G. / Semenova, G. N. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    2007-01-3890 Influence of Fastener Coatings on Fretting Fatigue

    Giummarra, C. / Zonker, H. / Zeng, L. et al. | British Library Conference Proceedings | 2007


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