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    Titel :

    New measurements with a perfect crystal cavity for neutrons [3767-48]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, EUV, X-ray, and neutron optics and sources ; 1999 ; Denver, CO



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1999


    Format / Umfang :

    7 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 3767

    DataCite | 1917


    Refractive x-ray focusing with modified phonograph records [3767-11]

    Cederstrom, B. / Cahn, R. N. / Danielsson, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Microfocusing VLS-grating-based beamline for advanced microscopy [3767-38]

    Cocco, D. / Marsi, M. / Kiskinova, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    High-uniformity collimator for x-ray proximity lithography [3767-06]

    Cash, W. C. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1999


    Smoothing of mirror substrates by thin-film deposition [3767-21]

    Spiller, E. A. / Baker, S. L. / Parra, E. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999