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    Titel :

    C-Ni multilayer reflectors: an AFM roughness study



    Kongress:

    Symposium; 6th, Optoelectronics ; 1999 ; Bucharest



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2000


    Format / Umfang :

    7 pages


    Anmerkungen:

    . Also known as SIOEL '99




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




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