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    Titel :

    PSF measurement of imaging detectors with an x-ray microbeam [4499-21]


    Beteiligte:
    Takano, H. (Autor:in) / Suzuki, Y. (Autor:in) / Uesugi, K. (Autor:in) / Takeuchi, A. (Autor:in) / Yagi, N. (Autor:in) / McNulty, I.

    Kongress:

    Conference, X-ray micro- and nano-focusing: applications and techniques II ; 2001 ; San Diego, CA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2001


    Format / Umfang :

    8 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4499

    DataCite | 1931


    Microbeam production using compound refractive lenses: beam characterization and applications [4499-13]

    Schroer, C. G. / Lengeler, B. / Benner, B. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Diffraction-limited microbeam with Fresnel zone plate optics in hard x-ray regions [4499-15]

    Suzuki, Y. / Takeuchi, A. / Takano, H. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    X-ray imaging microscope with a partial coherent illumination [4499-10]

    Takeuchi, A. / Takano, H. / Uesugi, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Imaging buried magnetic domains using hard x rays [4499-02]

    Lang, J. C. / Pollmann, J. / Haskel, D. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001