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    Titel :

    Vision-based algorithms for high-accuracy measurements in an industrial bakery [4567-20]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, Machine vision and three dimensional imaging systems for inspection and metrology ; 2001 ; Newton, MA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    8 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Nr. 4567

    DataCite | 1933


    Machine vision systems using machine learning for industrial product inspection [4567-28]

    Lu, Y. / Chen, T. Q. / Chen, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Scanning machine vision for fiber optic connector inspection [4567-36]

    Kipman, Y. / Wolin, D. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2002


    AIAA-2002-4567 Modeling and Control of a PowerSail

    Vadali, S. / Naik, K. / Alfriend, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Complete 3D model reconstruction from multiple views [4567-08]

    Lin, H.-Y. / Subbarao, M. / Park, S.-Y. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002