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    Titel :

    Real-time weld defect inspection system in x-ray images [4929-45]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, Optical information processing technology ; 2002 ; Shanghai, China



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    6 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4929

    DataCite | 1940


    Improved real-time fingerprint verification by four-channel JTC [4929-86]

    Wang, H. X. / He, J. F. / Zhao, X. K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Time Delayed Incremental Nonlinear Control (AIAA 2013-4929)

    Koschorke, J. / Falkena, W. / Van Kampen, E.-J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2013


    Intelligent ground monitor system [4929-77]

    Liu, D. M. / Shen, J. X. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2002


    Indirect-contact collection and identification of fingerprint images [4929-76]

    Li, B. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2002