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    Titel :

    Feature Analysis Using Millimeter-Wave Real Beam and Doppler Beam Sharpening Techniques



    Kongress:

    Symposium; 5th, Image analysis and interpretation ; 2002 ; Santa Fe, NM



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    5 pages


    Anmerkungen:

    Also known as SSIAI 2002. IEEE order no. PR01537



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Feature analysis using millimeter-wave real beam and Doppler beam sharpening techniques

    Cassabaum, M.L. / Rodriguez, J.J. / Riddle, J.G. et al. | IEEE | 2002


    Terminal Guidance Using a Doppler Beam Sharpening Radar

    Hodgson, Jeremy / Lee, David | AIAA | 2003


    Vertical digital beamforming versus vertical Doppler Beam Sharpening

    Laribi, Amir / Hahn, Markus / Dickmann, Jurgen et al. | IEEE | 2017


    Parameter Estimation for Terminal Guidance Using a Doppler Beam Sharpening Radar

    Rollason, Malcolm / Salmond, David / Evans, Michael | AIAA | 2003


    High-Resolution Automotive Imaging Using MIMO Radar and Doppler Beam Sharpening

    Cassidy, Scott L. / Pooni, Sukhjit / Cherniakov, Mikhail et al. | IEEE | 2023