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    Titel :

    Defect Identification With Model-Based Test Automation


    Beteiligte:

    Kongress:

    Session, Testing and instrumentation 2003 ; 2003 ; Detroit, MI



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    Paper nos 2003-01-1024 to 2003-01-1037 with gaps. Held during the SAE 2003 World Congress



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Defect Identification With Model-Based Test Automation

    Nauman, Aaron / Busser, Bob / Stensvad, Bryan et al. | SAE Technical Papers | 2003


    Defect identification with model-based test automation

    Blackburn,M. / Nauman,A. / Busser,B. et al. | Kraftfahrwesen | 2003


    Model-based test automation for automotive human machine interfaces

    Stolle, Reinhard / Benedek, Thomas / Knuechel, Christian | Tema Archiv | 2005


    TEST AUTOMATION SYSTEM AND TEST AUTOMATION METHOD FOR SATELLITE CONTROL SOFTWARE

    JEONG CHEOL OH / KIM IN JUN / LEE BYOUNG SUN et al. | Europäisches Patentamt | 2018

    Freier Zugriff

    Global Test Automation System: New Automation System for Powertrain Test Center

    Kahlke, W. / International Council for Powertrain Engineering and Management | British Library Conference Proceedings | 1999