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    Titel :

    7.1202 Nano-scaled Electrical Sensor Devices for Integrated Circuit Diagnostics



    Kongress:

    Aerospace conference ; 2003 ; Big Sky, MT



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    2544 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 03TH8652, CD-ROM version 03TH8652C




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Integrated Optical Diagnostics for Miniature Devices

    Fourguette, D. / Suarez, C. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 1999


    Integrated optical diagnostics for miniature devices

    Fourguette, D. / Suarez, C. | AIAA | 1999


    CAPACITIVE MEASUREMENT CIRCUIT WITH SENSOR WIRING DIAGNOSTICS

    LAMESCH LAURENT | Europäisches Patentamt | 2017

    Freier Zugriff

    Capacitive measurement circuit with sensor wiring diagnostics

    LAMESCH LAURENT | Europäisches Patentamt | 2020

    Freier Zugriff