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    Titel :

    2005-01-0898 Nanometer Displacement Measurement Using High Magnification Diffraction Imaging


    Beteiligte:

    Kongress:

    Experiments in Automotive Engineering - Optical Techniques ; 2005 ; Detroit, Mich.


    Erschienen in:

    SAE SP ; 1957 (2005)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    Held as a session of the SAE 2005 World Congress. Contains papers from a session of the SAE 2005 World Congress. Includes bibliographic references.



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Nanometer displacement measurement using high magnification diffraction imaging

    Chen,F. / Harwood,P. / Yang,L.X. et al. | Kraftfahrwesen | 2005


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