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    Titel :

    SEE-Hardened-by-Design Area-Efficient SRAMs


    Beteiligte:
    Lam, D. Y. (Autor:in) / Lan, J. (Autor:in) / McMurchie, L. (Autor:in) / Sechen, C. (Autor:in) / IEEE

    Kongress:

    IEEE aerospace conference ; 2005 ; Big Sky, MT



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    7 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 05TH8788




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Design Considerations for Next Generation Radiation Hardened SRAMs for Space Applications

    Haddad, N. / Rockett, L. / Doyle, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Design considerations for next generation radiation hardened SRAMs for space applications

    Haddad, N. / Rockett, L. / Doyle, S. et al. | Tema Archiv | 2005



    Impact of aging on radiation hardness(CMOS SRAMs)

    Shaneyfelt, M.R. / Winokur, P.S. / Fleetwood, D.M. et al. | Tema Archiv | 1997


    Determination Of LETs Of SRAMs By Use Of A Laser

    Kim, Quiesup / Mccarty, Kenneth P. / Barnes, Charles E. et al. | NTRS | 1995