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    Titel :

    An Alternative Metrology Concept: Ray Trace Ranging



    Kongress:

    International Symposium; 3rd, Formation flying, missions and technologies ; 2008 ; Noordwijk, The Netherlands



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2008


    Format / Umfang :

    20 pages


    Anmerkungen:

    Held in e-store (RMS)




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Ray Trace Ranging

    Hagenfeldt, N.M. / Sequeira, J. | AIAA | 2006


    Optical metrology terminal for satellite-to-satellite laser ranging

    Mandel, Oliver / Chwalla, Michael / Schuldt, Thilo et al. | British Library Conference Proceedings | 2019


    Laser ranging positioning metrology for Galileo and the Moon

    Martini, M. / Dell'Agnello, S. / Delle Monache, G. et al. | IEEE | 2015


    Laser metrology concept consolidation for NGGM

    Nicklaus, K. / Cesare, S. / Massotti, L. et al. | British Library Conference Proceedings | 2019


    The Concept of Exterior Interactions for Electromagnetic Metrology

    Koshpar onok, V. N. / Majstrenko, Y. V. | British Library Online Contents | 2002