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    Titel :

    A Closed Loop Method for Vehicle Instrument Cluster Test Automation


    Beteiligte:

    Kongress:

    WCX SAE World Congress Experience



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2019


    Format / Umfang :

    ALL-ALL



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    A Closed Loop Method for Vehicle Instrument Cluster Test Automation

    Ramu, Arunkumar / G, Gayatri Sindhu / Shastry, Raghuram | SAE Technical Papers | 2019


    Vehicle instrument cluster

    CLARK TODD N / SCHULZ KATHLEEN M / TULIK CHRISTOPHER et al. | Europäisches Patentamt | 2016

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    Optimal instrument panel performance through closed loop finite element analysis to test correlation

    Blackson,S. / Dobrowski,D. / NOVA Chemicals,US et al. | Kraftfahrwesen | 1997


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    PARK CHONG BAE | Europäisches Patentamt | 2019

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