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    Titel :

    Damage sizing in self-sensing materials using a genetic algorithm-supplemented electrical impedance tomography formulation


    Beteiligte:
    Hassan, H. (Autor:in) / Tallman, T. N. (Autor:in)

    Kongress:

    Sensors and Smart Structures Technologies for Civil, Mechanical, and Aerospace Systems 2020



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2020


    Format / Umfang :

    113790B-113790B-9




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Damage Diagnosis in Semiconductive Materials Using Electrical Impedance Measurements

    Ross, R. / Hinton, Y. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2008



    Electrical impedance tomography of carbon nanotube composite materials [6529-71]

    Hou, T.-C. / Loh, K. J. / Lynch, J. P. et al. | British Library Conference Proceedings | 2007


    Damage Detection in Composite Materials by Monitoring Electrical Impedance

    Woelfinger, C. / Drechsler, K. / Arendts, F. J. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994


    Optimal Sizing of Tramway Electrical Infrastructures Using Genetic Algorithms

    Boukir, Anass / Reinbold, Vincent / Ossart, Florence et al. | Springer Verlag | 2023