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    Titel :

    Development of Digital Shearography for Dual Sensitivity Simultaneous Measurement Using Carrier Frequency Spatial Phase Shift Technology


    Beteiligte:
    Zheng, Xiaowan (Autor:in) / Guo, Bicheng (Autor:in) / Fang, Siyuan (Autor:in) / Sia, Bernard (Autor:in) / Yang, Lianxiang (Autor:in)

    Kongress:

    WCX SAE World Congress Experience



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2023


    Format / Umfang :

    ALL-ALL



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Spatial Phase-Shift Digital Shearography for Out-of-Plane Deformation Measurement

    Sia, Bernard / Yang, Guobiao / Yang, Lianxiang et al. | SAE | 2014


    Spatial Phase-Shift Digital Shearography for Out-of-Plane Deformation Measurement

    Xie, X. / Zheng, Y. / Li, X. et al. | British Library Conference Proceedings | 2014


    Multi-Wavelengths Michelson Interferometer Based Spatial Phase Shift Shearography with Color Camera

    Petry, Christopher / Schuth, Michael | British Library Conference Proceedings | 2019