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    Titel :

    Accelerated automotive electronics testing: a physics-of-failure approach


    Beteiligte:
    Hu, J. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    531 / 620 / 629.1





    Accelerated Mode Test for automotive electronics

    Culbertson,G. / Hewlett Packard,US | Kraftfahrwesen | 1996


    Intermittent failure detection in automotive electronics

    McAlexander, D.S. / Ferguson, L.D. | Tema Archiv | 1977