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    Titel :

    Development of Stroboscopic Microscope Using Fringe Scanning Interferometry Technique (FSIT)


    Beteiligte:
    Nakano, K. (Autor:in) / Hane, K. (Autor:in) / Okuma, S. (Autor:in) / Eguchi, T. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    629.8



    Autoanalysis system for stroboscopic holographic interferometry [3479-29]

    Wang, X. / Kang, M. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1998


    Nanosecond Stroboscopic Microscope For Laser Ablation Of Biological Tissue

    Shimaoka, Y. / Nakamura, M. / Ohmi, M. et al. | IEEE | 1997


    Measurement error caused by white-light spectrum in fringe scanning interferometry [2321-60]

    Chen, J. / Zhou, B. / Chinese Optical Society; Topical Committee on Optoelectronic Technology et al. | British Library Conference Proceedings | 1994