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    Titel :

    Placez la nano-indentation sous l'oeil de l'AFM La microscopie a force atomique (AFM) permet d'acceder a la durete mais aussi au module d'elasticite des materiaux


    Erschienen in:

    MESURES ; 732 ; 66-69


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2001


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    629.8 / 001.6






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