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    Titel :

    Digital Control of Interferometric Metrology Lines


    Beteiligte:
    Canuto, E. (Autor:in) / Musso, F. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2007


    Format / Umfang :

    20 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    629.895



    Wide aperture interferometric spindle metrology: sensitivities and strategies

    Idowu, A. / Gee, A. E. / Institute of Physics | British Library Conference Proceedings | 1996


    Interferometric form metrology applied to a rotating surface

    Gee, A. E. / Institute of Physics; Applied Optics Division / Institution of Electrical Engineers et al. | British Library Conference Proceedings | 1990



    Interferometric metrology : 20-21 August 1987, San Diego, California

    Society of Photo-optical Instrumentation Engineers / SPIE, the International Society for Optical Engineering | TIBKAT | 1988