Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Generalized Simple Theory for Estimating Lateral Leakage Loss Behavior in Silicon-on-Insulator Ridge Waveguides


    Beteiligte:
    Kakihara, K. (Autor:in) / Saitoh, K. (Autor:in) / Koshiba, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2009


    Format / Umfang :

    5492 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    Full-wafer loss measurements of silicon ridge waveguides

    Gould, M. / Jing Li, / Baehr-Jones, T. et al. | IEEE | 2011


    Correlation of Scattering Loss, Sidewall Roughness and Waveguide Width in Silicon-on-Insulator (SOI) Ridge Waveguides

    Yap, K.P. / Delage, A. / Lapointe, J. et al. | British Library Online Contents | 2009


    Fabrication and Characterization of Narrow-Band Bragg-Reflection Filters in Silicon-on-Insulator Ridge Waveguides

    Murphy, T. E. / Hastings, J. T. / Smith, H. I. | British Library Online Contents | 2001


    Leakage Loss in Trench-Bulge Waveguides

    Krause, M. / Renner, H. / Harke, A. et al. | British Library Online Contents | 2005


    Propagation Loss in Single-Mode Ultrasmall Square Silicon-on-Insulator Optical Waveguides

    Grillot, F. / Vivien, L. / Laval, S. et al. | British Library Online Contents | 2006