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    Titel :

    Failure Mechanism and Lifetime Prediction Modeling of IGBT Power Electronic Devices


    Beteiligte:
    Chen, M. (Autor:in) / Hu, A. (Autor:in) / Liu, B. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2011


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    500



    Lifetime Prediction Model of IGBT Modules in EMU

    Zhu, Benchao / Wang, Lei / Zhang, Lei et al. | Springer Verlag | 2020


    Lifetime Prediction Model of IGBT Modules in EMU

    Zhu, Benchao / Wang, Lei / Zhang, Lei et al. | British Library Conference Proceedings | 2020


    Lifetime Prediction Model of IGBT Modules in EMU

    Zhu, Benchao / Wang, Lei / Zhang, Lei et al. | TIBKAT | 2020


    Model for Power Cycling lifetime of IGBT Modules - various factors influencing lifetime

    Bayerer, R. / Licht, T. / Herrmann, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2008


    Lifetime Modeling and Prediction of Power Devices (Invited paper)

    Ciappa, M. / VDE; European Center for Power Electronics | British Library Conference Proceedings | 2008