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    Titel :

    QI offers next-generation AFM imaging mode for nanometrology


    Beteiligte:
    Haschke, H. (Autor:in) / Jahnke, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 48 , 3 ; 25-30


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2012


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366




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