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    Titel :

    Material spectral emissivity measurement optimized by multi-spectral temperature measured


    Beteiligte:
    Yongjun, Y. (Autor:in) / Zhongyu, W. (Autor:in) / Shukun, Z. (Autor:in) / Xuecong, Z. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2014


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    629.4





    Spectral Emissivity of Highly Doped Silicon

    Heller, Gerhard B. | AIAA | 1967


    Spectral emissivity of highly doped silicon

    Liebert, C. H. / Thomas, R. D. | NTRS | 1968


    Spectral Emissivity of Highly Doped Silicon

    C. H. Liebert / R. D. Thomas | NTIS | 1968