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    Titel :

    Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers III : 29 - 30 January, 1998, San José, California


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference ; 1998 ; San Jose, Calif. Conference (San Jose, Calif.) : 1998.01.29-30


    Erscheinungsdatum :

    1998


    Format / Umfang :

    VIII, 232 S.


    Anmerkungen:

    Ill., graph. Darst.
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Medientyp :

    Konferenzband


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    DDC:    621.36/6