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    Titel :

    Deep Learning-Based Automatic Micro-crack Inspection in Space-Grade Solar Cells


    Beteiligte:

    Kongress:

    ICSS ; 1. ; 2019 ; Hyderabad, Telengana



    Erscheinungsdatum :

    2020



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :

    Klassifikation :

    BKL:    55.60 Raumfahrttechnik



    Deep Learning-Based Automatic Micro-crack Inspection in Space-Grade Solar Cells

    Gundawar, Sharvari / Kumar, Nitish / Meetei, N. Raghu et al. | Springer Verlag | 2020


    Micro-crack inspection in heterogeneously textured solar wafers using anisotropic diffusion

    Tsai, D. M. / Chang, C. C. / Chao, S. M. | British Library Online Contents | 2010


    Towards automatic inspection: crack recognition based on Quadrotor UAV-taken images

    Vazquez-Nicolas, J. M. / Zamora, Erik / Gonzalez-Hernandez, I. et al. | IEEE | 2018


    Solar Cells From Metallurgical-Grade Silicon

    Daiello, R. V. / Robinson, P. H. | NTRS | 1982


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    Xu, J. / Liu, T. / Yin, X.M. et al. | Tema Archiv | 2010