Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    New Methodologies for Grain Boundary Detection in EBSD Data of Microstructures


    Beteiligte:
    Catania, Richard K. (Autor:in) / Senthilnathan, Arulmurugan (Autor:in) / Sions, John (Autor:in) / Snyder, Kyle (Autor:in) / Al-Ghaib, Huda (Autor:in) / Zimmerman, Ben (Autor:in) / Acar, Pinar (Autor:in)

    Kongress:

    AIAA SciTech Forum and Exposition ; 2022 ; San Diego, Calif.; Online


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2022


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    New Methodologies for Grain Boundary Detection in EBSD Data of Microstructures

    Catania, Richard K. / Senthilnathan, Arulmurugan / Sions, John et al. | AIAA | 2022



    Materials Testing - Electron Backscatter Diffraction - EBSD -

    Nürnberger, Florian | TIB AV-Portal | 2022

    Freier Zugriff

    Heat treatment alloy spoke under EBSD analysis

    HUANG YONGCHAO | Europäisches Patentamt | 2023

    Freier Zugriff

    Grain Topology Quantification of Additively Manufactured Metallic Microstructures

    Zhao, Hengduo / Senthilnathan, Arulmurugan / Snyder, Kyle et al. | TIBKAT | 2023