Zugriff

    Download


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Verbundprojekt: Offene Metrologieplattform für vertrauenswürdige Elektronikkomponenten - WaferMetrologyCenter : Kurzbericht zum Teilvorhaben: Reinheitstechnische Auslegung und Evaluierung : Laufzeit des Vorhabens und Berichtzeitraum: 01.03.2020-28.02.2023



    Erscheinungsdatum :

    2023


    Format / Umfang :

    1 Online-Ressource (16 Seiten, 3,87 MB)


    Anmerkungen:

    Illustrationen, Diagramme
    Förderkennzeichen BMBF 16ME0058
    Verbundnummer 01210284
    Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Medientyp :

    Report


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Deutsch