Machine vision systems for inspection and metrology VII : 4 - 5 November 1998, Boston, Massachusetts
Conference ; 1998 ; Boston, Mass. Conference (Boston, Mass.) : 1998.11.04-05
1998
XI, 386 S
Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek
Konferenzband
Englisch
DDC: | 670.42/5 |