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    Titel :

    A device for the rapid measurement of total emittance


    Beteiligte:
    BEVANS, J. (Autor:in)

    Kongress:

    2nd Annual Meeting ; 1965 ; San Francisco , CA , U.S.A.


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1965



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch





    Measurement of Total Hemispherical Emittance at Cryogenic Temperatures

    Ohnishi, Akira / Furusawa, Tohru / Nagasaka, Yuji | SAE Technical Papers | 1996



    Measurement of Hemispherical Total Emittance in Cryogenic Temperature

    Ohnishi, A. / SAE | British Library Conference Proceedings | 1994


    Simultaneous Measurement of Solar Absorptance and Total Hemispherical Emittance

    Ohnishi, A. / Tanaka, K. / Hatada, T. et al. | SAE Technical Papers | 1988