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    Titel :

    Model Results on the Radiation-Hardness of Submicron Electronics in Aeronautical Systems


    Beteiligte:

    Kongress:

    U.S. Air Force T&E Days 2010 ; 2010 ; Nashville , Tennessee



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2010




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Model Results on the Radiation-Hardness of Submicron Electronics in Aeronautical Systems

    Atkinson, W. / Seidler, W. / Matzkind, C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2010


    Nuclear Hardness Assurance for Aeronautical Systems

    Ferry, James M. / Patrick, Rayford P. | SAE Technical Papers | 1980


    Electronics and aeronautical research

    Engineering Index Backfile | 1947


    ELECTRONICS IN AERONAUTICAL RESEARCH

    White, J. A. | NTRS | 1957


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