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    Titel :

    Diffraction and Refraction in Plasma Diagnostics via Microwave Probing


    Beteiligte:
    Shang, Joseph (Autor:in)

    Kongress:

    43rd AIAA Aerospace Sciences Meeting and Exhibit



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Diffraction and Refraction in Plasma Diagnostics via Microwave Probing

    Shang, J. S. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2005



    Simulating Microwave Radiation for Plasma Diagnostics

    Shang, J. S. / AIAA | British Library Conference Proceedings | 2004


    A microwave lens system for plasma diagnostics

    Bitzer, R. A. / Holt, E. H. | TIBKAT | 1965


    Refraction and diffraction of random waves through breakwater

    Yu, Y.X. / Liu, X.Y. / Li, Y.S. et al. | Tema Archiv | 2000