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    Titel :

    Fehlerfreie Testumgebung: HiL im Einsatz


    Weitere Titelangaben:

    Zero-defect test bed: hardware-in-the-loop application.



    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2010


    Format / Umfang :

    3 pages


    Anmerkungen:

    Automotive electronics+systems;9(2010)11 ;44-46


    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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