Effective failure analysis methods are described; step-by-step procedure for performing failure analysis; how to identify failure mechanisms and their causes; how to assess results of failure analysis and to establish relationship between findings and affected parameters or characteristics. (31636)


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    Titel :

    Reliability handbook for silicon monolithic microcircuits


    Weitere Titelangaben:

    NASA CR


    Beteiligte:
    Workman, W.L. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1969


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :