The present application provides a sampling system which includes a sampler for bringing back a sample of a ground surface; a projector configured to project a reference mark onto the ground surface, the reference mark including a line that has a predetermined shape; a camera configured to capture an image of the reference mark that is displayed on the ground surface by projection; an arm whose distal end portion is provided with the sampler, the projector, and the camera; a controller configured to obtain a size of the line that is displayed on the ground surface by projection, based on image data of the reference mark captured by the camera; adjust a height position of the projector based on the obtained size of the line; and specify a sampling point, into which the sampler is thrown and inserted, based on the image data of the reference mark.

    La présente demande concerne un système déchantillonnage, qui comprend un échantillonneur pour récupérer un échantillon dune surface de sol, un projecteur configuré pour projeter un repère sur la surface du sol, le repère comprenant une ligne dune forme prédéterminée, une caméra configurée pour enregistrer une image du repère affiché sur la surface de sol par projection, un bras dont lextrémité distale comprend léchantillonneur, le projecteur et la caméra, et une commande configurée pour obtenir une dimension de la ligne affichée sur la surface de sol par projection en fonction des données dimage du repère enregistrées par la caméra, ajuster une position de hauteur du projecteur en fonction de la taille de ligne obtenue et préciser un point déchantillonnage dans lequel léchantillonneur est lancé et inséré en fonction des données dimage du repère.


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    Titel :

    SAMPLING METHOD AND SAMPLING SYSTEM


    Weitere Titelangaben:

    PROCEDE D'ECHANTILLONNAGE ET SYSTEME D'ECHANTILLONNAGE


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    13.06.2023


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    IPC:    G06V / B64G Raumfahrt , COSMONAUTICS / G01N Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften , INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES / G02B Optische Elemente, Systeme oder Geräte , OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS



    Sampling method and sampling system

    SAKAMOTO FUMINOBU / KUROSE TOYOTOSHI | Europäisches Patentamt | 2024

    Freier Zugriff

    SAMPLING METHOD AND SAMPLING SYSTEM

    SAKAMOTO FUMINOBU / KUROSE TOYOTOSHI | Europäisches Patentamt | 2024

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    SAKAMOTO FUMINOBU / KUROSE TOYOTOSHI | Europäisches Patentamt | 2021

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    SAKAMOTO FUMINOBU / KUROSE TOYOTOSHI | Europäisches Patentamt | 2024

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    SAKAMOTO FUMINOBU / KUROSE TOYOTOSHI | Europäisches Patentamt | 2024

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