PROBLEM TO BE SOLVED: To improve accuracy of determining, from an outside of a predetermined apparatus, whether or not there is an unauthorized program in the apparatus.SOLUTION: An IVI apparatus 14 stores determination data based on data stored in an entire region of a memory of a peripheral device 16. The IVI apparatus 14 acquires, at a predetermined inspection timing, data stored in the entire region of the memory of the peripheral device 16 and derives inspection data on the basis of the data. If the IVI apparatus 14 determines, if the inspection data derived in the inspection timing is not matched with pre-stored determination data, that the peripheral device 16 is in an abnormal state.SELECTED DRAWING: Figure 1

    【課題】所定の装置における不正プログラムの有無を当該装置の外部から判定することの精度を向上させる。【解決手段】IVI装置14は、周辺機器16のメモリの全領域に格納されたデータに基づく判定データを記憶する。IVI装置14は、所定の検査タイミングにおいて、周辺機器16のメモリの全領域に格納されたデータを取得して、そのデータに基づいて検査データを導出する。IVI装置14は、検査タイミングにおいて導出した検査データと、予め記憶した判定データとが不一致の場合に、周辺機器16が異常と判定する。【選択図】図1


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    Titel :

    INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, INSPECTION METHOD AND COMPUTER PROGRAM


    Weitere Titelangaben:

    検査装置、検査システム、情報処理装置、検査方法およびコンピュータプログラム


    Beteiligte:
    KOBAYASHI KOJI (Autor:in) / ANZAI JUN (Autor:in) / FUJIMURA KAZUYA (Autor:in) / TANABE MASATO (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    10.05.2018


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Japanisch


    Klassifikation :

    IPC:    B60R Fahrzeuge, Fahrzeugausstattung oder Fahrzeugteile, soweit nicht anderweitig vorgesehen , VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR / G06F ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING , Elektrische digitale Datenverarbeitung



    PATROL INSPECTION SYSTEM, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND PATROL INSPECTION CONTROL PROGRAM

    KASHIMOTO SHINICHI / MITA KEISUKE / FUJII AKIRA et al. | Europäisches Patentamt | 2018

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    USUI TAKASHI / TAKAYASU TOSHITAKA / WATABE KAZUO et al. | Europäisches Patentamt | 2022

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    INSPECTION ASSISTANCE PROGRAM, INSPECTION ASSISTANCE SYSTEM, AND INSPECTION ASSISTANCE APPARATUS CONTROL METHOD

    IMAI AKIRA / ISHIMARU MASAKAZU | Europäisches Patentamt | 2020

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