We report a terahertz pulse apertureless near-field microscope (THz NFM) which combines THz time domain spectroscopy (THz-TDS) and atomic force microscopy (AFM) techniques. By scanning the probe over a GaAs/Au edge, it is found that the THz NFM has a lateral resolution of 80 nm.


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    Titel :

    Terahertz Near-Field Microscope


    Beteiligte:
    Park, H. (Autor:in) / Kim, J. (Autor:in) / Kim, M. (Autor:in) / Han, H. (Autor:in) / Park, I. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.09.2006


    Format / Umfang :

    1282805 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Terahertz near-field microscopy

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