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    Titel :

    On-wafer dual-beam electro-optic probing of electric-field vector


    Beteiligte:
    Kuo, W.K. (Autor:in) / Huang, S.L. (Autor:in) / Chang, L.C. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    307993 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Electro-optic wafer beam deflector in LiTaO~3 [2700-09]

    Li, J. / Cheng, H. C. / Kawas, M. J. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996



    An Electro-Optic Probing System for Near Electric Field Measurement Using Heterodyne Method

    Kuo, W. K. / Pai, C. H. / Huang, S. L. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Ti:LiNbO3 Integrated Optic Electric-Field Sensors based on Electro-Optic Effect

    Jung, Hongsik | British Library Online Contents | 2016


    Thz Electro-optic Field Sensors

    Zhang, X.-C. / Wu, Q. / Litz, M. | IEEE | 1997