Bei der Untersuchung von Bauteilen auf innere Defekte oder Spannungszustände wird häufig Shearografie eingesetzt, welches durch Auswertung von Interferenzen in Scherrichtung (Speckle-Effekt) Verformungen von Bauteilen aufgrund mechanischer oder thermischer Spannungen ermitteln kann. Es wird beschrieben, wie durch Einsatz der Lock-In-Technik (besondere Auswertung der Interferenzen nach periodischer Strahlungsmodulation) schnell und einfach Defekte ermittelt werden können. Im Unterschied zur Interferometrie werden aber nicht mechanische Resonanzen ausgewertet sondern es kommen hier thermische Wellen im berührungslosen Verfahren zum Einsatz. In optischer Bildverarbeitung werden schnelle Folgen von Phasenabbildern der Reflexionswellen mittels Fourier-Transformation verarbeitet und der Phasenwinkel der reflektierten Wellen ausgewertet. Lokale Defekte und Verspannungen im Bauteil werden durch Phasenwinkelabweichungen angezeigt. Es werden Beispiele der erfolgreichen Defektermittlung in Kunststoffen und Faserverbundstoffen erläutert.


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    Titel :

    Lock-In-Shearografie: Prinzip und Anwendung


    Weitere Titelangaben:

    Lock-in shearography: principle and application



    Erschienen in:

    tm - Technisches Messen ; 75 , 6 ; 390-397


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2008


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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