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    Titel :

    Materials Testing - Scanning Electron Microscopy


    Untertitel :

    Lecture


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2022


    Format / Umfang :

    46 MB



    Medientyp :

    Audiovisuelles Material


    Format :

    Audiovisuelles Material


    Sprache :

    Englisch





    In-Situ Fatigue Crack Growth Testing of Al7075-T651 under Scanning Electron Microscopy

    Zhang, W. / Liu, Y. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2011


    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronics

    Hou, A.S. / Nechay, B.A. / Ho, F. et al. | IEEE | 1995



    Materials Testing – Light Microscopy

    Nürnberger, Florian | TIB AV-Portal | 2022

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